因为目前的测试方式都不足以代表完整LED芯片的使用寿命和需花费冗长的时间。因此，有其他的团队开始研究加速寿命测试方式和寿命推估模型，而Highlyacceleratedtemperatureandhumiditystresstest(HAST)是目前有可能拿来做加速寿命推估的测试方法。