hast老化试验箱非标定制

产品特点：可定制BIAS偏压端子组数，提供产品通电测试通过电脑安全便捷的远程访问多层级的敏感数据保护便捷的程序入口、试验设置和产品监控试验数据可以导出为Excel格式并通过USB接口进行传输型号：hast系列        生产方式：非标定制品牌：RIUKAI           产地：北京·北京非标定制产品详情请咨询客服

hast设备

产品特点：可定制BIAS偏压端子组数，提供产品通电测试通过电脑安全便捷的远程访问多层级的敏感数据保护便捷的程序入口、试验设置和产品监控试验数据可以导出为Excel格式并通过USB接口进行传输可提供130℃温度、湿度85%RH和230KPa大气压的测试条件

hast试验箱

产品特点：用户可以查看他们希望查看任何数据通过电脑安全便捷的远程访问多层级的敏感数据保护便捷的程序入口、试验设置和产品监控试验数据可以导出为Excel格式并通过USB接口进行传输hast测试条件有130℃、85%RH、230KPa大气压，96hour测试时间。

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本设备广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。满足试验标准：GB-T2423.40-1997、IEC60068-2-66-1994、JESD22-A100、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等

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内箱容积（圆桶）：￠300×D450、￠400×D550温度范围：+110～+132℃、+110℃～+147℃压力范围：压力表+0.2～2.0kg/cm²、压力表+0.2～3.0kg/cm²、压力表+0.3～3.5kg/cm²湿度范围：65%～100%R.H(可调)适用范围：本设备广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。

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可按需定制温度范围：A(105℃～132℃)；B(105℃～142.9℃)；C(105℃～155℃)可选压力范围：A(压力表+0.2～2.0kg/cm)；B(压力表+0.2～3.0kg/cm)；C(压力表+0.2～3.5kg/cm)湿度范围：65%～100%R.H(可调)湿度波动度：非饱和控制：±2.5%R.H、湿润饱和控制：100%R.Hhast蓝狮在线是在非饱和湿度（65%～100%RH可调）、温度、压力等条件下，检测产品或材料可靠性耐高温高湿能力的仪器设备。

JEDEC JESD22-A118B.01：2021 Accelerated Moisture Resistance - Unbiased hast

JEDEC JESD22-A110E：2015 Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test (hast)

JESD22-A118B无偏压hast加速水汽抵抗性测试标准

无偏hast方法是为了评估非密封封装固态器件在潮湿环境中的可靠性的试验方法。这是一种高度加速试验，在非冷凝条件下利用温度和湿度加速水汽通过外部保护材料（封装材料或密封件）或沿着外部保护材料和金属导体之间的界面渗透。本试验中不采用偏压，以确保可能被偏压掩盖的失效机制可以被揭示（如电偶腐蚀)。此测试用于识别封装内部的故障机制，具有破坏性。

芯片（IC）可靠性测试好帮手——蓝狮在线hast试验箱系列

芯片是电子信息产品重要的元器件，是高端制造业的是核心基石！几乎每种电子设备，电脑、手机、家电、汽车、高铁、电网、医疗仪器、机器人、工业控制等都使用芯片。蓝狮hast试验箱主要应用于芯片、半导体器件、金属材料领域，通过爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。