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详解:<i style='color:red'>薄膜电容</i>耐环境可靠性试验

详解:薄膜电容耐环境可靠性试验

温度冲击试验就是通过环境温度的快速变化,确定电容器暴露于高低温极值下,以及抗御高低温极值交替冲击的能力。温度冲击试验常采用如下条件:试验温度:-55℃~85℃;恒温时间:30分钟;转换时间:≤5分钟;循环次数:50次

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