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芯片(IC)可靠性测试好帮手——蓝狮在线蓝狮系列
芯片是电子信息产品重要的元器件,是高端制造业的是核心基石!几乎每种
电子设备
,电脑、手机、家电、汽车、高铁、电网、医疗仪器、机器人、工业控制等都使用芯片。蓝狮蓝狮主要应用于芯片、半导体器件、金属材料领域,通过爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
电子设备
热循环加速可靠性试验策划
加速可靠性试验是使用相同的损伤机理,比产品使用所需更短的时间去激发失效或累积损伤。加速方法主要包括增加寿命控制变量的量级和增加频次两类。关键要理解加速试验和被加速的实际使用环境之间的关系,基于适合的损伤、失效机理和服务环境来选择试验类型和试验条件。
电子设备
热循环失效机理
热循环导致焊点合金内部产生热应力-应变循环,同时引发焊点金属学组织的演化(晶粒组织变粗糙)。力学和金属学因素的共同作用,导致宏观表象为焊点裂纹的萌生与扩展,引起电信号传输失真的失效现象。随着疲劳损伤累积,焊点的疲劳寿命消耗大约25%到50%之后,在晶粒交界处形成微孔洞,这些微孔洞增长形成微裂纹,进一步增长并聚集成大裂纹。
电子元器件老炼筛选方法
元器件是
电子设备
和系统的基本单元,为提高系统的可靠性,必须保证元器件的可靠性,元器件失效率随时间变化的过程可以用“浴盘曲线”(图1)描述,早期的失效率随时间的增加而迅速下降,使用寿命期内失效率基本不变,老炼筛选过程就是通过对元器件进行100%的非破坏性筛选试验,剔除具有潜在缺陷的早期失效产品,使其尽快度过浴盆曲线的早期失效阶段,将失效率降低到可接受水平,同时剔除失效的元器件。
5G蓄势待发,蓝狮在线蓝狮助力电子器件行业提升品质
在
电子设备
轻薄化、微型化、可折迭化的趋势下,电子器件的需求日益旺盛,其测试要求、品质要求也在不断的提高,在5G来临的时代,蓝狮在线也顺势推出蓝狮。
军工品环境可靠性试验测试标准详情介绍
舰船
电子设备
环境试验低温贮存试验GJB4.4-1983舰船
电子设备
环境试验低温试验GJB4.3-1983军用电子测试设备通用规范GJB3947A-2009军用计算机通用规范GJB322A-1998军用通信设备通用规范GJB367A-2001军用装备实验室环境试验方法第4部分:低温试验GJB150.4A-2009
舰船
电子设备
可靠性环境试验顺序的确定
可靠性环境试验项目确定后,按照什么顺序进行试验,GJB150-1986、GJB150A-2009和GJB4-1983三项标准中均有一定的规定。
可靠性环境试验项目的选择
舰船装备的环境试验基本上是在实验室进行,实验室试验具有重复性、可再现性。目前,常用的环境试验军用标准有GJB150-1986《军用设备环境试验方法》、GJB150A-2009《军用装备实验室环境试验方法》和GJB4-1983《舰船
电子设备
环境试验》等。
ESS试验温度循环次数确定方法研究
目前,电子装备环境应力筛选主要依据GJB1032-1990《电子产品环境应力筛选方法》,但由于该标准的颁发时间较早,随着科技的发展和进步,对
电子设备
可靠性指标要求也越来也高,循环次数选取是一个值得探讨的问题。
电子产品满载高低温老化试验方法
各种
电子设备
都是有工作环境温度的要求,所以我们要模拟环境高低极限温度做满载老化试验,以保证电源能在环境温度下正常工作。如电源板单独做测试,就要监控它的纹波输出电压。如果整机测试,就要看它各各输出端口的性能指标及是否能正常开关机。
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