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电子设备<i style='color:red'>热循环失效机理</i>

电子设备热循环失效机理

热循环导致焊点合金内部产生热应力-应变循环,同时引发焊点金属学组织的演化(晶粒组织变粗糙)。力学和金属学因素的共同作用,导致宏观表象为焊点裂纹的萌生与扩展,引起电信号传输失真的失效现象。随着疲劳损伤累积,焊点的疲劳寿命消耗大约25%到50%之后,在晶粒交界处形成微孔洞,这些微孔洞增长形成微裂纹,进一步增长并聚集成大裂纹。

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