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微电子器件
老化筛选测试
流程
2020-12-01 08:46:54
【文章】
舰船通用微电子器件的老化筛选项月,一般都与个或多个故障模代有关。所以其老化筛选的顺序大有讲究,本文推荐的舰船通用微电子器件老化筛选顺序(流程)是:常温初测、低温测试、高温测试、高低温冲击动态老化/高温存储检漏常温终测这里的/是条件或。即如果已做动态老化,高温存储可省:如果由于条件限制做不了动态老化,那么可用高温存储作补偿性筛选。