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可靠性增长试验、可靠性鉴定试验和可靠性验收试验之比较
来源: 网络 时间:2020-07-16
    可靠性增长试验、可靠性鉴定试验和可靠性验收试验是三种常见的可靠性试验,它们有什么相同点和不同点呢,以下对其从试验目的、试验条件、试验方案或项目、试验合格性和受试产品的失效判据五个方面进行分析:

    (一) 试验目的

    1、可靠性增长试验
    在研制过程中模拟实际的或加速的使用条件进行试验,使产品存在的设计(包括电路设计、结构设计和工艺设计)缺陷变为硬故障而充分暴露,对故障进行分析、采取纠正措施,根除故障产生的原因或降低故障率到可以接受的值,使产品的固有可靠性得到增长。
    2、可靠性鉴定试验
    验证产品的设计能否在规定的环境条件下满足规定的性能及可靠性要求。试验结果作为判断设备能否定型的依据。适用于设计定型的鉴定。
    3、可靠性验收试验
    对产品各项指标进行全面检验,以评定产品质量和可靠性是否全部符合标准和达到设计要求。对于批量生产的产品检验其质量稳定性和一致性。适用于生产定型、批量生产后的一定周期和在产品设计、工艺、材料有较大变动后的检验。

    (二) 试验条件

    1、电应力
    1.1 可靠性增长试验
    根据输入交流电压和输入直流电压的允许变化范围,部分时间在设计的标称输入电压下工作,部分时间在输入电压下工作,部分时间在输入电压下工作。例如:程控用户交换机应在AC220V,DC-48V、DC-40V~-57V范围内正常完成接续。
    1.2 可靠性鉴定试验
    同可靠性增长试验。
    1.3 可靠性验收试验
    除电源电压拉偏试验外,在标称输入电压下工作。电源拉偏试验根据不同的产品参考有关标准在、电压下工作。
    2、热应力
    2.1 可靠性增长试验
    所施加的应力强度可略高于使用时的应力强度,以不引起新的故障机理为限。如温度循环一般可以将略高于产品高温温度、略低于产品低温温度作为温度循环的上、下限温度,温度变化率可取5℃/min或10℃/min。循环周期时间根据温度变化率而定。
    2.2 可靠性鉴定试验
    将产品工作高温温度作为试验温度。
    2.3 可靠性验收试验
    按产品标准的工作高、低温温度进行各种功能和指标的检验。按产品标准的储运高、低温温度进行储运试验。

    (三) 试验方案或试验项目

    1、可靠性增长试验
    可靠性增长方案:可靠性增长应有增长目标值(θ0可接受质量水平),必须要有可靠性增长模型。典型的可靠性增长模型有Duane模型和Amsaa模型。在试验达到终点应该达到或超过规定的可靠性指标。
    2、可靠性鉴定试验
    试验方案的种类有两种:定时截尾试验方案 、截尾序贯试验方案 。
    3、可靠性验收试验
    试验项目包括:高温工作试验、高温储存试验、低温工作试验、低温储存试验、恒定湿热试验、运输(振动)试验等。

    (四) 试验合格性

    1、可靠性增长试验
    在规范化的试验设备中,当试验结果达到规定的可靠性指标,认为合格。若增长试验结束时未达到规定的可靠性指标,则作为不合格处理。
    2、可靠性鉴定试验
    按选择的统计试验方案规定的接收或拒收判据作为产品是否合格的依据。
    3、可靠性验收试验
    判别水平和抽样方案在GB 2829 中选择。产品质量以不合格数表示。产品质量等级的终判定按检测项目所达到的质量等级确定。(即B类不合格数达到的质量等级和C类不合格数达到的质量等级两者中取较低者)。

    (五) 失效判据

    1、可靠性增长试验
    ①在产品标准中应该对每个被测参数规定可接收的性能范围。若任一参数超出这种范围时,应称作一次失效。如果不只是一个参数偏离了规定范围,而且能证明不是同一原因使这些参数超出规定范围时,每一种参数的偏离都应算作产品的一次失效。如果参数偏离规定范围是同一原因造成的,只记作产品的一次失效。
    ②由于元器件时好时坏,或因虚焊、漏焊、短路、开路、接触不良等造成的产品故障,均记入失效数内。
    ③产品在一个有限时间内停止工作,接着又在没有任何外界激励的情况下恢复工作,这叫间歇失效,应记作受试产品的一次失效。
    ④已经证实是未按规定的条件使用所引起的故障、仅属某项将不采用的设计所引起的故障、以及外加应力超过规定值所引起的故障叫“非关联故障”,否则叫“关联故障”, “非关联故障”不记入受试产品失效数内。但应记录并采取措施以防止再度发生。
    2、可靠性鉴定试验
    同可靠性增长试验。
    3、可靠性验收试验
    对受试产品进行试验和检查,根据每一项试验的结果和检查结果确定是否有B类不合格或C类不合格,分别累计所有试验和检查的B类不合格和C类不合格即为受试产品的B类不合格数和C类不合格数。

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